X射線發(fā)射光譜儀 XEScope是一種能對元素的化學(xué)狀態(tài)進行定量、定性分析的表征設(shè)備，憑借精準(zhǔn)的檢測能力和便捷的操作體驗，為多領(lǐng)域元素價態(tài)研究提供可靠技術(shù)支撐。

●超高靈敏度：可精準(zhǔn)捕捉低含量(0.1 wt%)成分信息。

●高能量分辨率：≤0.5 eV，信號識別精準(zhǔn)。

●化學(xué)態(tài)分辨：清晰區(qū)分同一元素的不同價態(tài)（如Si2+/Si4+、S2-/S?+），解析化學(xué)性質(zhì)。

●原位測試：動態(tài)反應(yīng)機理研究，精準(zhǔn)還原成分分布、化學(xué)態(tài)變化的原位特征。

●覆蓋元素廣：可分析從輕元素（如Al、Si）到重元素（如U、Pb），滿足多領(lǐng)域需求。

●無損檢測：無需破壞樣品結(jié)構(gòu)，適用于珍貴/稀有樣品分析。

●用戶界面友好：集成化軟件，操作簡單易上手。

X射線發(fā)射光譜儀 XEScope概述

聚焦表面價態(tài)信息，多樣品形態(tài)兼容

●表面信息精準(zhǔn)捕捉：核心聚焦樣品表面元素組成與化學(xué)態(tài)，無需深度穿透，直接獲取表層關(guān)鍵數(shù)據(jù)，適用于涂層、薄膜等表面研究場景。

●多形態(tài)樣品無門檻：兼容固體（如塊狀、片狀）、液體（如溶液、乳液）、粉末等多種形態(tài)，無需客戶進行研磨、溶解等復(fù)雜前處理，直接上機測試。

●低量低含量友好：樣品需求量低至5 mg，微小晶體、少量粉末等特殊形態(tài)均可適配；支持質(zhì)量分數(shù)為0.1%的樣品檢測，檢測范圍廣。

集成化軟件，精準(zhǔn)定量分析

●操作便捷性：可實現(xiàn)全流程簡化操作——從測試條件確認到實際的數(shù)據(jù)解析無需復(fù)雜專業(yè)操作，用戶界面友好，極簡培訓(xùn)需求。

●集成化軟件：配備功能完善的分析軟件，支持自動能量校準(zhǔn)、擬合解析和定量分析，支持對同一元素對應(yīng)的多組樣品進行批量檢測，軟件可批量計算分析結(jié)果并生成標(biāo)準(zhǔn)化報告，大幅提升檢測效率。

價態(tài)定量分析

●價態(tài)分析：利用標(biāo)準(zhǔn)樣進行能量校準(zhǔn)和價態(tài)的定量偏移，可以求得測試樣品的價態(tài)信息

●占比分析：通過測試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣的線性擬合，可計算測試樣品中的各價態(tài)含有量的比例

全自動化測試，覆蓋元素廣泛

●晶體自動切換:配備了晶體自動切換功能，可搭載6塊分析晶體，能夠覆蓋1.2 K eV-5 K eV的能量范圍。

●覆蓋元素廣泛:能夠?qū)υ有驍?shù)為13(Al)-23(V)和31(Ga)-90(U)的廣泛元素實現(xiàn)價態(tài)分析，其檢測范圍主要包括

13(Al)-23(V)的K光譜線、31(Ga)-59(Pr)的L光譜線和61(Pm)-90(U)的M光譜線，滿足從輕元素到重元素的多樣化檢測需求。

表征方式特征比較